Wettbewerb für Studenten zum Thema 3D-Scannen

Mit dem GOM Education Award hat der Messtechnik-Spezialist GOM erstmals einen internationalen Wettbewerb für Studenten zum Thema 3D-Scannen ausgeschrieben. Die Teilnehmer sollen mit dem ATOS 3D-Scanner von GOM einen Praktikumsversuch ausarbeiten. Eine Fachjury bewertet die Vorschläge, die bis zum 30. Juni 2017 auf Englisch eingereicht werden müssen. Der Gewinner erhält den mit 3.000 Euro dotierten GOM Education Award und die einmalige Gelegenheit, die Arbeit während der GOM 3D Metrology Conference 2017 Industrievertretern namhafter Unternehmen vorzustellen.

Mit dem GOM Education Award fördert GOM die praxisnahe Ausbildung im Bereich 3D-Messtechnik. Denn das vollflächige 3D-Scannen hat sich als Industriestandard im Reverse Engineering und der Qualitätssicherung etabliert. Es bildet außerdem die Grundlage für Industrie 4.0, da die vollständige 3D-Digitalisierung von Bauteilen erst die selbststeuernde Qualitätssicherung in Produktionsprozessen ermöglicht.

Weitere Informationen zum GOM Education Award

Quelle und Vorschau-Foto: GOM GmbH